關(guān)于地面用晶體硅怎樣才算合格的判斷？

      關(guān)于本試驗(yàn)的合格判斷：

      如果每一個(gè)試驗(yàn)樣品達(dá)到以下各項(xiàng)判斷，則認(rèn)為該組件設(shè)計(jì)通過了鑒定試驗(yàn)，也通過了定型。

      A 在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下，組件的最大輸出功率的衰減在每個(gè)單項(xiàng)試驗(yàn)后不超過規(guī)定的極限，每一組試驗(yàn)          程序后不超過規(guī)定值的8%；

      B 在試驗(yàn)過程中，無組件呈現(xiàn)開路或接地故障現(xiàn)象；

      C 無第7章中定義的任何嚴(yán)重外觀缺陷；

      D 全部試驗(yàn)完以后，仍滿足絕緣測試要求；

      E 組件的扭曲試驗(yàn)從開始到結(jié)束貫串整個(gè)過程，并在濕-熱試驗(yàn)之后；

      F 個(gè)別試驗(yàn)會(huì)有一些特殊的要求。

      如果兩個(gè)或兩個(gè)以上組件達(dá)不到上述判據(jù)，該設(shè)計(jì)將視為達(dá)不到鑒定要求。如果一個(gè)組件未通過任一項(xiàng)試驗(yàn)，取另外兩個(gè)滿足第3章要求的組件從頭進(jìn)行全部相關(guān)試驗(yàn)程序的試驗(yàn)。假如其中的一個(gè)或兩個(gè)組件都未通過試驗(yàn)，該設(shè)計(jì)被判定達(dá)不到鑒定要求。如果兩個(gè)組件都通過了試驗(yàn)，則該試驗(yàn)被認(rèn)為達(dá)到鑒定要求。

      關(guān)于此實(shí)驗(yàn)的報(bào)告：

      通過定型之后，試驗(yàn)機(jī)根據(jù)ISO/IEC 17025電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系程序給出鑒定實(shí)驗(yàn)報(bào)告證書，該證書應(yīng)包括測定的性能參數(shù)，以及任何第一次試驗(yàn)未通過測試和重新試驗(yàn)的詳細(xì)情況。所有的證書或試驗(yàn)報(bào)告必須至少包含下列各項(xiàng)信息：

      A 證書或報(bào)告的名稱；

      B 測試實(shí)驗(yàn)室的名稱和地址，以及測試進(jìn)行的地點(diǎn)；

      C 確認(rèn)證書或報(bào)告的每一業(yè)都有特別的序號(hào)；

      D 客戶的名稱和地址；

      E 對(duì)測試的項(xiàng)目進(jìn)行說明和確認(rèn)；

      F 測試項(xiàng)目的性能參數(shù)和測試條件；

      G 測試開始的日期和測試進(jìn)行的日期；

      以上就是本章的上半部分，若想知道本章的下半部分，就請(qǐng)關(guān)注小編的另一篇文章哦！